電容測試儀儀器開路校正功能能消除與被測元件相并聯(lián)的雜散導(dǎo)納（G,B)造成的誤差。開路校正包括采用插入計(jì)算法的全頻開路校正和對所設(shè)定的頻率點(diǎn)進(jìn)行的單頻開路校正。

            特別注意：當(dāng)進(jìn)行開路校正時(shí)應(yīng)將測試夾具連接到電容測試儀儀器測試端。夾具開路，不連接到任何被測元件。

             按軟鍵ON，使開路校正有效，電容測試儀儀器將在以后的測試過程中進(jìn)行開路校正計(jì)算。

             按軟鍵OFF,關(guān)閉開路校正功能。以后的測量過程中將不再進(jìn)行開路校正的計(jì)算。

           按軟鍵開路全頻清，電容測試儀儀器將對可測試的頻率點(diǎn)的開路導(dǎo)納（電容和電感）進(jìn)行測量。開路全頻校正大約需要15秒的時(shí)間。在開路全頻校正過程中，顯示軟鍵：放棄

           放棄軟鍵可中止當(dāng)前的開路校正測試操作。保留原來的開路校正數(shù)據(jù)不變。